科研型原子力顯微鏡

型　號FM-Nanoview R-AFM

更新時間2025-10-30

所屬分類科研型原子力顯微鏡

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產品描述：科研型原子力顯微鏡（FM-Nanoview R-AFM），高性能和高性價比的科學研究級AFM。

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產品特色：

◆ 高性能和高性價比的科學研究級AFM

◆ 支持多種工作模式和多種功能模塊擴展，滿足絕大多數的基礎科研應用

◆ 開放式的結構設計，支持更多定制化的功能選擇

◆ XYZ三軸獨立閉環壓電陶瓷掃描器，同時實現高精度的定位和高分辨掃描測量

◆ 閉環壓電陶瓷掃描測量無需非線性校正，納米表征和測量精度優于99.5%

技術參數：

掃描范圍	XY閉環100*100um，Z閉環10 um	系統噪音水平	RMS≤30 pm
掃描分辨率	XY閉環0.2nm， Z閉環0.04nm	圖像采樣點	最高4096*4096
掃描速度	0.1Hz~100Hz	減震方式	氣浮式減震臺或主動式減震臺
標準成像模式	接觸模式、輕敲模式、相位成像、側向力模式（LFM）
力學測量模式	F-Z力曲線、RMS-Z曲線、高級力譜成像、力學Mapping測量
電學測量模式	靜電力模式（EFM）、導電力模式（C-AFM）、開爾文探針力模式（KPFM）、壓電力模式（PFM）、掃描電阻模式（SSRM）、掃描電容模式（SCM）
磁學測量模式	磁力模式（MFM）、可調制外加磁場
納米刻蝕功能	力學刻蝕、電學刻蝕
環境控制功能	液體成像模式、密閉氣氛控制模式（特殊氣體）、冷熱一體溫控模式（-20℃~200℃）、電化學測量模式
光學輔助功能	可適配體視顯微鏡、正置金相顯微鏡、倒置生物顯微鏡聯用

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